Min S.-H., Kwon O., Sattorov M., Kim S., Hong D., Kim S., Cho I., Park C., Jung W., Kim M., Kim K.M., Hwang W.T., Park S., Lee K.C., Lee Y.J., Lim S.M., Hong B.H., Park G.-S.
AIP Advances, 10(5), 55110(2020)
DOI:10.1063/5.0006618
Wu G., Yin H., Xu Z., Yang R., Lei X., Li Q., Yue L., Xu J., Zhao G., Park G.-S., Wei Y.
IEEE Transactions on Electron Devices, 67(4), 1826(2020)
DOI:10.1109/TED.2020.2975645
Lim, T., Jeong, S.-M., Ju, S., Yang, K.-H., Jeon, O.S., Park, S.Y., Yoo, Y.J.
Journal of the Korean Physical Society, 75(12), 1028 (2019)
DOI:10.3938/jkps.75.1028
Lim, T., Kim, Y., Jeong, S.-M., Kim, C.-H., Kim, S.-M., Park, S.Y., Yoon, M.-H., Ju, S.
Scientific Reports, 9(1), 17294 (2019)
DOI:10.1038/s41598-019-53677-2
Jeong, W., Jeong, S.-M., Lim, T., Han, C.-Y., Yang, H., Lee, B.W., Park, S.Y., Ju, S.
ACS Applied Materials and Interfaces, 11(38), 35286 (2019)
DOI:10.1021/acsami.9b09571
Choi, Y.S., Yeo, C.-S., Kim, S.J., Lee, J.-Y., Kim, Y., Cho, K.R., Ju, S., Hong, B.H., Park, S.Y.
Nanoscale, 11(26), 12637 (2019)
DOI:10.1039/c8nr07527a
Ahn, J., Lim, T., Yeo, C.S., Hong, T., Jeong, S.-M., Park, S.Y., Ju, S.
ACS Applied Materials and Interfaces, 11(15), 14296 (2019)
DOI:10.1021/acsami.8b22535
Kim, N.-H., Choi, M., Kim, T.W., Choi, W., Park, S.Y., Byun, K.M.
Sensors (Switzerland), 19(8), 1894 (2019)
DOI:10.3390/s19081894
Trung, T.Q., Dang, T.M.L., Ramasundaram, S., Toi, P.T., Park, S.Y., Lee, N.-E.
ACS Applied Materials and Interfaces, 11(2), 2317 (2019)
DOI:10.1021/acsami.8b19425
Min S.-H., Kwon O., Sattorov M., Kim S., Hong D., Park C., Hong B.H., Jung I.S., Cho I., Hwang W.T., Barik R.K., Bera A., Park G.-S.
AIP Advances, 9(2), 25012 (2019)
DOI:10.1063/1.5084172