2022년 5월 10일(화) 오전 10시30분 / 융기원 2층 세미나룸Ⅳ

□ 마병진 센터장 (한국전자기술연구원)

  ○ 동경대(Univ. of Tokyo) 전자공학과 박사

  ○ KAIST / Postdoctoral Scholar

  ○ XL광통신, 삼성전기

  ○ 2007년 한국전자기술연구원 신뢰성연구센터

  ○ 주요 연구분야

    - 광반도체 고장분석, 신뢰성편가, 방열 설계

    - 전자제품의 신뢰성 평가, 방열 설계

    - 열특성 평가, 열 솔루션

□ 주요 논문 및 특허실적

  ○ Evaluation of the Internal Quantum Efficiency in Light-Emitting Diodes / Journal of Korean Physical Society (2015)

  ○ Proposal of New Measurement Method for Internal Quantum Efficiency of Light-Emitting Diodes / Japanese journal of applied physics (2013)

  ○ Thermal properties and lifetime comparison of various ceramic-package light-emitting diodes / Electronic materials letters (2013)

  ○ Lifetime enhancement of high-power light-emitting diodes using thermal paths in ceramic package / Electronics letters (2012)

  ○ Complex-stress accelerated lifetime test for high-power light-emitting diodes / Electronics letters (2012)